調(diào)頻風(fēng)速紫外線高低溫老化箱

    由陽光造成的危害，利用螢光紫外線燈模擬陽光照射的效果，被測試材料放置于恒定溫度下的光照中進(jìn)行測試。用數(shù)天或數(shù)周的時間即可重現(xiàn)戶外數(shù)月或數(shù)年出現(xiàn)的危害。危害類型包括：褪色、變色、失光、粉光、開裂、剝落、渾濁、氣泡、脆變、強度降低、衰退和氧化等

適用于多種工業(yè)產(chǎn)品的性能可靠性試驗：

   GB/T14522-93《中華人民共和國國家標(biāo)淮--機械工業(yè)產(chǎn)品用塑料、涂料、橡膠材料—熒光燈人工氣候加速試驗方法》

   GB/T16585-1996《中華人民共和國國家標(biāo)淮—硫化橡膠人工氣候老化（熒光紫外燈）試驗方法》及GB/T16422.3-1997《塑料實驗室光源暴露試驗方法》等相應(yīng)標(biāo)淮條款設(shè)計制造；

   符合國際測試標(biāo)淮：ASTM D4329、D499、D4587、D5208、G154、G53；ISO 4892-3、ISO 11507；等所有現(xiàn)行紫外線老化試驗標(biāo)淮。

調(diào)頻風(fēng)速紫外線高低溫老化箱

     性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子産品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗設(shè)備》的要求。

  電工電子産品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法GB 2423.1-89 （IEC68-2-1）。

  電工電子産品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法GB 2423.2-89 （IEC68-2-2）。

  電工電子産品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca：恒定濕熱試驗方法GB/T 2423.3-93（IEC68-2-3）。

  電工電子産品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Da：交變濕熱試驗方法GB/T423.4-93（IEC68-2-30）。

a.可使用的程序組：大50組

b.可使用的記憶容量：共5000SEGMENTS。

c.可重復(fù)執(zhí)行命令：每一個命令可達(dá)9999次。

d.程序之制作采對談式，具有編輯、清除、插入等功能。

e.SEGMENTS時間設(shè)定0～530Hour59Min。

f.具有斷電程序記憶，復(fù)電后自動啓動并接續(xù)執(zhí)行程序功能（可保存10年以上）。

g.程序執(zhí)行時可實時顯示圖形曲線。

h.具有日期、時間調(diào)整功能。

i.按鍵及畫面鎖定（LOCK）功能。