高低溫溫度沖擊試驗箱（左右吊籃沖擊）：電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化，測試其材料對高、低溫的反復測試。

一、型號：TSC-225PF-2P

二、沖擊溫度：-40~150

三、精度條件：高溫~低溫5分鐘內(nèi)達到，9點溫度均勻度正負2度

高低溫溫度沖擊試驗箱（左右吊籃沖擊）

1)試驗樣品應按標準要求放置在試驗箱內(nèi),并將試驗箱(室)內(nèi)溫度升到達點，保持一定的時間至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定，以時間長都為準。

2)高溫階段結束后，在5min內(nèi)將試驗樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到-55℃的低溫試驗箱(室)內(nèi)，保持1h或者直至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定，以時間長都為準。3)低溫階段結束后，在5min內(nèi)將試驗樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到70℃的高溫試驗箱(室)內(nèi)，保持1h或者直至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定，以時間長都為準。

4、重復上述實驗方法,以完成三個循環(huán)周期。根據(jù)樣件大小與空間大小，時間可能會略有誤差?；謴停涸囼灅悠窂脑囼炏鋬?nèi)取出后，應在正常的試驗大氣條件下進行恢復，直至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定。

5.后檢測：對照標準中的受損程度及其它方法進行檢測結果評定。